照明测量

LED 和半导体照明(SSL)常被认为是未来之光:结合了低能耗,高效技术及很长的使用寿命等特点。但在LED和半导体照明产品的生产过程中,有个固有的挑战就是它们的亮度,颜色和闪烁这些光学特性,即便在同一生产批次中都会存在差异。为保证能生产出高端的照明产品,需要在LED产品的开发阶段就测量这些光学特性,并在生产过程中对所有产品进行检测。传统的LED-半导体照明产品测量包括:

  • 光谱功率分布 决定了光源每个不同波长的总发射功率,体现出光的不同属性,如: 显色性,CRI, CCT等等。
  • 辐射,辐照度和辐射强度 测量可测出辐射功率量(W/m²/sr, W/m² 和 W/sr),以及PAR等参数。
  • 亮度,照度和发光强度 测量分别决定了每平方米发出的光输出,光通量和发光强度。
  • 闪烁 闪烁 测量用来评定和校准光源的闪烁情况。目前支持:flicker 百分比, index 和 IEEE 1789。
  • 2D发光面 测量评定较大发光板或平面的不均匀性等特征。
几何和光学配置
光学配置 辐射测量法 分光辐射测量术 分光光度法
积分球

辐射功率

[W]

光谱辐射功率

[W/nm]

光功率

[lm]

余弦矫正器*

辐照度

[W/m²]

分光照度

[W/m²/nm]

照度

[lm/m² = lux]

余弦矫正器*

辐射强度

[W/sr]

光谱辐射强度

[W/sr/nm]

发光强度

[lm/sr = cd]

镜头

辐射

[W/m²/sr]

光谱辐射

[W/m²/sr/nm]

亮度

[lm/m²/sr = cd/m² = nit]

闪烁测量可以通过以上任意光学配置实现。

除了余弦矫正器,还可以用积分球来评定[光谱]辐照度和辐射强度/照度及发光强度